单晶硅危害

单晶硅危害单晶硅由于其本身内部完整的晶体结构,其光伏电池效率明显高于多晶硅电池。然而,单晶硅内部杂质和晶体缺陷的存在会严重影响太阳能光伏电池的效率,比如:光照条件下-复合体的产生会导致单晶电池的早期光致衰减;内部金属杂质和晶体缺陷(位错等)的存在会成为少数载流子的复合中心,影响其少子寿命,导致电池性能的下降。一、少子寿命对光伏电池性能的影响少子寿命是指半导体材料在外界注入(光或电)停止后,少数载流子从值衰减到无注入时的初值之间的平均时间。少子寿命是用于表征材料的重金属沾污及体缺陷的重要参数,少子寿命值越大,相应的材料质量越好。少子寿命已成为生产线上常规测试的一个参数。我们选取某供应商某批单晶硅片进行实验,将硅片按不同少子寿命区分后,按正常电池工艺做成电池,其少子寿命和电池效率具有很好的对应关系,如下图所示:图少子寿命和电池效率对应图二、早期光致衰减对电池性能的影响早期光致衰减机理型掺硼晶体硅太阳电池的早期。

单晶硅危害标签:光伏产业氧是单晶硅中的主要杂质,是直拉单晶硅中不可避免的杂质,它主要来源于石英坩埚的污染。氧可以与空位结合形成缺陷,也可以团聚形成氧团簇,具有电学性能,还可以形成氧沉淀,引入诱生缺陷,这些都可能对单晶硅太阳能光伏电池的性能产生影响。当直拉单晶硅在热处理时,会产生与氧相关的施主效应,此时,型晶体硅的电阻率下降,型晶体硅的电阻率上升。施主效应严重时,甚至能使型晶体硅转变成型晶体硅,这种与氧相关的施主被称为热施主。当热施主浓度较高时,会直接影响晶体硅的载流子浓度,从而影响集成电路或太阳能光伏电池的性能。氧在硅中要析出,除了氧热施主以外,氧析出的另一种形式是氧沉淀。在晶体生长完成后的冷却过程和硅器件加工过程中,单晶硅要经历不同的热处理过程。在低温热处理时,过饱和的氧一般聚集形成氧施主;但在相对高温热处理或多步热处理循环时,过饱和的氧析出形成氧沉淀。与热施主不同,一般认为氧沉淀没有电学性能,对直拉单晶。

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